CMX DL+测厚仪

CMX DL+测厚仪

The CMX DL+ 测厚仪不仅有MVX的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。

测量方式（仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度）

显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>）

增益可调节：超低、低、中、高、超高

上海楹点检测设备有限公司提供仪器维修，产品带检，技术培训，产品配件选型，仪器说明书.由于公司经营品牌产品太多，为了节约您的时间，价格货期请直接联系我们客服获取产品信息。

增益值可到110dB

自动增益控制（AGC）

时间增益校正（TCG）

探头自动识别，自动调零和温度补偿

*大值、*小值显示

可存储64个用户参数设置

高速扫查（50次/秒）

高达140HZ的脉冲重复频率

B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）

差值测量模式

高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值

上/下限声光报警功能

数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告