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| 产品规格： | HCC-24磁阻法涂层镀层测厚仪 |
| 所属行业： | 焊接切割 无损检测设备 测厚仪 |
| 包装说明： | 原厂包装 |
| 产品数量： | 0.00 台 |
| 价格说明： | 面议 |
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HCC-24 磁阻法测厚仪
1 概述
HCC-24 磁阻法测厚仪是一种用电池供电的便携式测量
仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚
度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。
由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简
单、使用方便、稳定性好、测量精度高的优点。仪器具有
数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、*大值及
*小值。
本仪器采用电磁感应原理进行测量，符合国际标准
ISO2178和国家标准GB/T4956。当探头与覆盖层接触时，探
头和磁性基体构成一闭合磁回路，由于非磁性覆盖层存
在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。
通过对磁阻的测量，经电脑进行分析处理，由液晶显示器
直接显示出测量值。
2 技术参数
1）测量范围：0μm～1200μm。
2）示值误差：±(3%H+1）μm H为被测涂层厚度。
3）分 辨 率：1μm。
4）*小测量面的直径：φ10 mm。
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5）显 示：4位LCD显示测量的次数、平均值、*
大值、*小值，同时指示仪器的工作状
态及电池使用情况。
6）电 源：一节6F22型9V电池。
7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30 mm。
8）质 量：约250g。
9）使用环境：温度0℃～40℃；
相对湿度不大于。
3 仪器外型
显示窗
面板
主机
探头
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4 按键说明
1）“开/关”：仪器的开关键。
2）“统计RES”：数理统计键，对测量结果进行数理
统计，并顺序显示下述数据，即测量的次数
（N）、平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*
小值（MIN）。
3）“DEL”：从统计中当前测量值的键。
4）“校正CAL”：用于校正仪器的键。
5）“︿”：处在校正方式时，递增显示数值的键；在
正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
6） “﹀”：处在校正方式时，递减显示数值的键；在
正常测试时，用于普通模式与连续测量模式转换。
5 仪器的基本使用方法
用本仪器进行测试使用起来非常简单：首先用螺丝
撬开仪器背面的电池盒盖，装入电池。然后按“开/关”键
开机，仪器显示“- - -”，2秒钟后显示“0μm”，仪器便
进入测量状态。此时，用户只要将仪器的探头垂直压在被
测面上（如图1）。注意，探头按下时，探头的尾部会抬
起，手不要碰到探头的金属部分，以免影响保持探头内体
自由上下活动。保持探头放置稳定，仪器显示器上会出现
一个 标志，并显示测试结果。如果要再测一次，往
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上提探头使其离开被测面，然后再按下探头，仪器随后就
会显示新的测试结果。如果被测面是弧形的，按图2的方
式，使探头下端的三角开叉跨在被测件上，这样便能稳固
地放置探头，保证测试结果准确。
图1 图2
为了保证仪器正常工作并获得*佳工作状态，请注意
以下2个使用细节：
1. 在仪器开机时，使探头远离被测件和其它铁磁性物
体（10cm以上），直到仪器显示“0μm”为止。
2. 每次测试后，尽量上提探头，使其远离被测件，这
样会使仪器处于良好的环境适应状态。
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6 正式测试前的准备工作
用户购买后的新仪器在进行实际使用前，都必须要进
行仪器的校正，这是保证仪器达到标称精度的重要保证，
请务必重视。
仪器有多种校正方法，使用很灵活，用户可根据实际
需要选择如下一种方式：
1） 全范围高准确度的传统校正法
用户通过随机配备的三个不同厚度的试片和裸基体完
成校正，具体步骤如下：
步骤一
在仪器处于开机后的状态时，按一下“校正CAL”
键，仪器屏上会出现“CAL”，同时会显示一个数值，该
数值如果不为“0”，按“﹀”键，直到该数值由大到小变
到“0”为止。然后将探头放在裸基体的测试面上进行测试
（注意，这里的裸基体一定要和实际被测物的材料和形状
完全相同。不要使用随机配备的标准金属基块，那只能用
来验证仪器本身工作是否正常，不能用来校正仪器）。可
以测试几下，待仪器上显示的数值基本稳定后，按一下
“校正CAL”键，仪器的零点便校正完毕，它会显示一个
新的数值。
步骤二
接上一步骤，用第一个试片来校正。看一下仪器上显
示的数值和随机配备*薄的试片的实际厚度是否一致，该
片所标注的实际厚度在20μm左右。用“︿”或“﹀”键，
使仪器上显示的数值和该试片的实际厚度值一致。然后将
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该试片平放在裸基体上，探头再压在上面进行测试，可以
重复几次。待仪器显示的测量值稳定后，按一下“校正
CAL”键，第一个试片的校正结束，仪器又显示下一个校正
片的厚度值。
步骤三
用步骤二相同的方法，只是所用试片要换成厚度
200μm左右的那一片。
步骤四
依然和步骤二相同，但所用的试片要换成1200μm左右
的那一片。到这个步骤的最后阶段，按一下“校正CAL”
键，仪器屏上还会继续显示一个校正片的厚度值，如
“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”键，
校正便全部结束了。这时的仪器便可以进行高准确度的实
际测量了。
在以后使用时，如果有必要，可以再次做上面四个步
骤的校正。仪器会记住了上次的零点和每个试片的厚度
值，这样就可以根据仪器提示，不用再修正试片厚度值，
便能轻松完成各个步骤。
2） 上下限校正法
在大多数情况下，用户使用本仪器测试的对象有一定
的共性，如材料和形状相同，涂层厚度也局限在某个范围
内，此时用户关心的也许是被测对象的涂层是否超差。如
果这些条件成立，那么就没有必要使用上面多步骤的传统
校正法，而只需要运用上下限校正便能很好地完成使命。
本方法只需要两个步骤校正两点，当然，这两点*好
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直接选用用户被测件涂层允许范围中的*小和*大厚度。
这样校正的结果，仪器在这两个校正点上的精度非常高，
甚至比上面传统的校正还要好。要实现这一点，用户首先
要设法获得符合这两个校正点厚度的试片，可以向本公司
提出购买特殊试片的要求，也可以自行寻找符合条件的样
品。不于苛求试片或样品的厚度值与理想的校正点完
全相符。有了这两个厚度片或实际样品后，校正便可按如
下步骤进行：
步骤一
先校正两者中较小的那个厚度值。在仪器开机后的状
态下，按一下“校正CAL”键，用“︿”或“﹀”键调整
仪器显示的厚度值，使其和两点中较小的那个厚度值一
致。然后，在裸基体上平放对应厚度的试片，探头再压上
进行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复
几次测试，待仪器显示的测试值稳定后，按一下“校正
CAL”键，该点的校正便完成，仪器进入下一点校正。
步骤二
接上一步骤，用“︿”、“﹀”键调整仪器显示的厚
度值，使其和两点中较大的那个厚度值一致。按步骤一同
样的方法，用另一块对应的试片或样品进行测试，待仪器
显示的测量值稳定后，按两次“校正CAL”键（后一次按
键使仪器退出校正过程），上下限的校正便完成了。
如果以后还要做同样的上下限校正，借助仪器已经记
住的两个校正点厚度值，能进一步让用户省去上面两个步
骤中调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。
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3） 单点校正法
有时候，受条件限制，譬如被测体是个凹面，无法使
用很难弯曲的厚试片进行校正；或者用户接触到的涂层厚
度局限在一个相对较小的范围内。此时，只能或只需要用
一个校正点。这个校正点可以是裸基体（零点），也可以
是某个任意涂层厚度的样品。如果用户的接触到的被测件
涂层厚度在某个较小范围内，如100μm左右，那么这个校
正点选100μm是*合适的。校正点定好以后就可以开始校
正了，只有如下一个步骤：
在仪器开机后的状态下，按一下“校正CAL”键，用
“︿”或“﹀”键调整仪器显示的厚度值，使其为“0”或
与样品的厚度值一致。然后，将探头直接放在裸基体上进
行测试。如果是样品，那么直接测试该样品。可以重复测
几次，待仪器显示的测试值稳定后，按两下“校正CAL”
键（后一次按键使仪器退出校正过程），单点校正便完成
了。
同样，如果以后还要做同样的单点校正，借助仪器已
经记住的校正点厚度值，能进一步让用户省去上面步骤中
调整厚度的那部分操作，使用将更加便捷。
相对于上面的几种方法，本校正法的操作*简单。但
代价是仪器的测试精度在远离校正点处可能会有所降低。
用户可以不妨试用一下本校正法，以便判断它能否满足实
际的测试要求。
4） 任意多个校正点校正法
如果用户接触到的被测物件形状比较特殊，而且涂层
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厚度的范围也比较大，同时精度又有更高的要求，那么用
户可以自行挑选多个校正点（*多10个）进行校正，仪器
允许的校正点厚度为0 ～ 1999μm。有一点请注意，在实
际进行校正的过程中，多个厚度执行顺序必须由小到大依
次进行。具体的操作步骤和上面的传统校正法类似，此处
就不再重复了。
7 仪器的其它操作说明
1）通过多次测量后，按“统计RES”键可依次显示出
测量次数、测量结果的平均值、*大值、*小值。
按了“统计RES”键后，如再次测量，仪器会原有
的测量值，并存储新的测量值，并重新计算各个统计值。
如果在测量中，因探头放置不稳，显示出一个明显错
误测量值，可按“DEL”键该测量值，以免影响
统计结果的准确性。
2）仪器使用完毕后，按“开/关”键，关闭电源。本仪
器还有自动关机功能，如不进行任何操作，显示屏上也没
有 显示，仪器会在大约五分钟后自动关机。
3）本仪器有电源状态指示功能，当电源电压不足时，
显示器左上角显示“BAT”。此后，仪器虽仍能工作约二
小时，但建议用户此时应更换电池。
4）除上述常规的工作模式外，本仪器还有一种连续显
示模式。在常规工作模式下,按“︿”或“﹀”键即可进入
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连续显示模式，这时显示器右上角出现“FREE”标志。在
该状态下，测量值不储存，每次测量完成后，探头不必提
离被测物，测量和显示仍继续进行。这样，通过探头在被
测物表面移动，可观察到测量值的连续变化。
再次按“︿”或“﹀”键可退回到常规工作模式，这
时“FREE”标志消失。
测量值的变化一般是由于涂镀层厚度不均匀引起的，
但被测零件的表面曲率变化或边缘效应以及基体表面粗糙
度也会造成测量值的变化。
5）测量微小零件时，建议使用适当的夹具固定被测件
（如图3）。
图3
磁阻法测厚仪
产品性能简介 PRODUCT PERFORMANCE
一种用电池供电的便携式测量仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度，如铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等；操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高；具有数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、*大值及*小值；采用电磁感应原理进行测量，符合国际标准ISO2178和国家标准GB/T4956。
基本参数
1.测量范围： 0μm～1200μm 。
2.示值误差 ： ±(3%H+1）μm H为被测涂层厚度 。
3.分 辨 率 ： 1μm 。
4.*小测量面直径 ： *小测量面的直径：φ10 mm 。
5.显示 ： 4位LCD显示测量的次数、平均值、*大值、*小值，同时指示仪器的工作状态及电池使用情况 。
6.电源： 一节6F22型9V电池 。
7.外形尺寸 ： 160 mm×80 mm×30 mm。
8.质量 ：约250g 。
9.使用环境 ： 温度0℃～40℃；相对湿度不大于 。
HCC-16P超声波测厚仪
应用超声波脉冲反射原理进行厚度或声速测量；*的非线性校准功能和自动零位校准功能；专为厚度检验方面的应用而设计的上、下限报警功能将给使用者带来大的便利；对于大部分能传播超声波的材料均可以使用本仪器测厚，如：金属、陶瓷、塑料、玻璃等。本仪器适用于石化工业、造船业、汽车制造业、电站、机器制造业中对锅炉、储油罐、船壳、甲板、轨道、机加工零件等的厚度测量和腐蚀测量；对于表面腐蚀粗糙的被测件，也具有较强的探测能力。
HCC-17超声波测厚仪
采用超声脉冲波反射原理测定工件的厚度；单面测量，适用广泛，尤其对大型板材、管道、锅炉和船体等的壁厚测量；面板上仅有四个按键即能完成全部的设定和控制，操作简便；先进的非线性自动补偿能使测试结果更加准确；小巧精致，风格*，携带非常容易，手持腕扣均可，即便是高空作业也非常方便。同时根据工况环境要求可选择本型号的防爆型。
HCC-18磁阻法测厚仪
电池供电的便携式测量仪器，操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高；可以直接测量导磁材料表面上的非导磁覆盖层厚度；采用磁阻法测量技术，当测量探头与覆盖层接触时，探头与导磁基体构成一个闭合磁回路，通过磁阻大小测量即可得到覆盖层厚度值，直接从仪器表头上读出；可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、塑料层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层，纸张等厚度测量，也可用于船体油漆及结构件的附着物的厚度测量。
HCC-18A磁阻法测厚仪
电池供电的便携式测量仪器，操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高；可以直接测量导磁材料表面上的非导磁覆盖层厚度；采用磁阻法测量技术，通过磁阻大小测量即可得到覆盖层厚度值，直接从仪器表头上读出；可应用于电镀层、油漆层、塑料层、纸张等厚度测量，也可用于船体油漆及结构件的附着物的厚度测量；双量程（量程Ⅰ：0~200μm、量程Ⅱ：150~2000μm），提高了测量精度。
HCC-24磁阻法测厚仪
一种用电池供电的便携式测量仪器，可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度，如铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等；操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高；具有数理统计功能，可直接显示测量次数、平均值、*大值及*小值；采用电磁感应原理进行测量，符合国际标准ISO2178和国家标准GB/T4956。
HCC-25电涡流式测厚仪
应用电涡流原理测量，仪器的设计符合ISO2360和GB4957标准；适用于非导磁金属基体上非导电覆盖层厚度的测量，如：测量铝的阳极氧化层以及铝、铜、锌等材料表面上油漆、喷塑和橡胶覆盖层的厚度，在航空、建材、轻工、机械、仪表、化工等行业已得到广泛的应用；先进的耐磨导套式测量探头和单片微机的应用，测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便、体积小巧、数据处理功能强。