ORIETG-X2笔试电磁超声与涡流复合测厚仪​

ORIETG-X2笔试电磁超声与涡流复合测厚仪

电磁超声与涡流复合测厚仪ORIETG-X2

 ORIETG®-X2笔试电磁超声与涡流复合测厚仪是一款无需声耦合剂、非接触式厚度测量的仪器，可实现金属或导磁性物质的厚度测量和表面涂层厚度测量。具有下列优势：

  (1) 无需耦合剂、无需打磨、无需接触，可隔防腐层、漆层测厚。

  电磁超声技术对工件表面要求不高，对粗糙表面无需打磨处理，可实现非接触式测量；对涂层不敏感，可实现含涂层工件的厚度测量，可隔着防腐层测厚；无需声耦合剂，可实现高温工件的厚度测量，可进行温度补偿；

  (2) 兼顾电磁超声测厚和涡流涂层测厚功能。

  主机和探头集成了电磁超声测厚传感器和涡流涂层测厚传感器，能在测量工件厚度的同时兼顾测量涡流涂层厚度，测厚灵敏度较上代产品有显著提升。

  (3) 具备具备线扫描功能。

  软件具备B扫描线扫查功能，方便对腐蚀点进行扫查。

  (4) 对工件表面曲率要求低，测厚精度、稳定度较压电超声高。

  对测厚技术人员要求不高，探头可倾斜、无需垂直于工件也可测量，数据稳定性高、重复性 好；可以测量小径管、弯头内侧等区域；特殊设计的测厚算法，测厚精度高，精确到 0.01mm。

  (5) 体积小、方便携带，带保存功能，单人即可完成巡检工作。