DB233z CLR组件测试仪

DB233z CLR组件测试仪

DB23X系列

概述
电容器的交流测量

用于测量电容、电感和电阻参数的 Danbridge 仪器套件包括供实验室使用的独立测量电桥以及用于在工业环境中快速测量大量元件的自动系统。

主要应用：

在自动分选机中快速、地测试电容器。

薄膜/箔电容器测试：

薄膜/箔电容器测试通常通过 1kHz 电容测试和 100kHz tan ∂ 或 ESR 测试进行。双频测试是一个的功能，可以在不到 50 毫秒的时间内完成，并将分选输出发送到分选机中的箱式分选装置。

测试薄膜/箔电容器时，我们建议使用电容测试仪 DB232。该仪器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔电容器自动测试的工业标准，并被大多数大的薄膜/箔电容器制造商所使用。

对于电容器的绝缘测试，请注意，快速兆欧表 DB622 是 DB232（或旧 CT30）的匹配。借助预充电和精细充电高压电源以及多个充电站，丹桥兆欧表可以确保高速测试。

如果您使用旧的 Danbridge 电容器测试仪（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替换它们的合理选择。特别是DB232内置CT30模式，可以快速、简单地更换旧的CT20和CT30元件测试仪。
请注意，旧的 CT20 和 CT30 组件测试仪不再受支持。然而，通过将旧的 Danbridge 设备更换为新设备，我们可以为您提供旧仪器的回购价格以及类似新设备的灵活付款或租赁。

钽电容的测试：

钽电容器或大型薄膜/箔电容器通常使用高电容测试仪 DB236 进行测试。该仪器除了具有 DB232 的功能外，还可以进行阻抗测试，例如 @ 10kHz 或 100kHz。

陶瓷电容器的测试：

陶瓷电容器根据电容值需要以1kHz或1MHz进行测试。电容测试仪 DB230 在 1kHz 时表现出出色的性能，是市场上快的电容测试仪，测试速度在 1MHz 时低至 6ms，包括排序输出。
因此，DB230 非常适合利用当今 SMT 分选机的高速特性，从而通过为您提供高电容器的高产量来确保高。

其他 CLR 应用程序的示例：

电容器的一般测试、变压器和线圈的测量、DB233z“取放”机器中的无源元件测试、电缆测试、电容式麦克风测试以及绕线功率电阻器中的电阻和电感。

关键特点

测量频率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
总体精度优于 0.05%，损耗因数优于2 x 10 -4
外部桥接模块，用于仪器和桥接模块之间的长电缆（3m 或 118 英寸）
测量电缆：1m 或 39.3 英寸（标配）
输入保护可防止 2 焦耳至 1kV 的充电电容器。此功能可以通过可选的保护盒 PB11 进行扩展
内置接触检查功能确保与设备的接触良好，额外2-6 ms0
高测量速度：从触发到测量结束20至180ms
测量范围：0.1pF 至 3mF，具体取决于频率
100kHz 时测量高达 9μF (0.2%)
内部偏置电压：发电机端子上高达 ±3V DC，以 0.1V 步长设置
外部偏置电压：高达 ±48V DC 平均值：1 至 99 次测量
显示读数：直接或偏差电容以及损耗测量的 tan ∂ 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z

技术规格

DB210 CLR 桥 *已停产

DB230 CLR元件测试仪

DB232 CLR 元件测试仪

DB233z CLR 组件测试仪

DB236大电容测试仪

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