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| 产品规格： | MRN-24保护性薄膜固定环 |
| 所属行业： | 仪器仪表 无损检测仪器 特殊无损检测仪器 |
| 包装说明： | 原厂包装 |
| 产品数量： | 0.00 个 |
| 价格说明： | 面议 |
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MRN-24保护性薄膜固定环
4L16-16X16-A24-P-2.5-OM手动接触式探头
奥林巴斯的A24探头系列用于手动接触式检测，采用符合人体工程学的外壳设计，其薄膜可以换，提供较大的方形孔径，可用于多种不同的应用。厚度为0.5毫米的薄膜使对耦合情况的核查加简单，使探头在粗糙的表面上顺滑地移动，还可防止探头受到磨损。
探头特性A24 Atlas系列 使用寿命长：可换的防磨面延长了探头的使用寿命 用途广泛：纵波0°检测，扫频+30°到 -30° 覆盖很宽的厚度范围：2.0 MHz和4.0 MHz探头具有这个特性 熟悉的外壳样式：采用相控阵技术的标准Atlas系列外壳 非常适用于以下检测操作： 桥梁的销钉和螺栓 锻件 |
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| 工件编号 | 订购编号 | 频率 （MHz） | 晶片数量 | 晶片间距 （毫米） | 孔径 （毫米） | 晶片高度 （毫米） | 电缆长度 （毫米） | 额定钢中折射声束角度 |
| 2L8-8X9-DGS1-P-2.5-OM | U8330598 | 2.0 | 8 | 1.0 | 8 | 9 | 2.5 | 58°横波 |
| 4L16-8X9-DGS1-P-2.5-OM | U8330597 | 4.0 | 16 | 0.5 | 8 | 9 | 2.5 | 58°横波 |
| 2L16-16X16-A24-P-2.5-OM | Q3300915 | 2.0 | 16 | 1.0 | 16 | 16 | 2.5 | 0°纵波 |
| 4L16-16X16-A24-P-2.5-OM | Q3300916 | 4.0 | 16 | 1.0 | 16 | 16 | 2.5 | 0°纵波 |
| 工件编号 | 订购编号 | 说明 |
| WEAR-FACE-FOR-A24-CASE-STYLE-CLR-0.020 | Q3300931 | 透明聚酯圆盘形防磨面，用于A24外壳类型，0.02英寸厚，一套12片装 |
| MRN-24 | U8770389 | 保护性薄膜固定环 |
HTHA探头
在探测高温氢致（HTHA）缺陷的应用中，这些优化的双晶线性阵列探头和全聚焦方式（TFM）探头可以提供宽泛的扫查角度范围和扩展的聚焦范围，而且在使用较高的增益时，还可以提高信号响应的质量。
HTHA（高温氢致）探头
使用多技术探头对高温氢致缺陷（HTHA）进行有效的探测
A28 DLA探头的图像
覆盖多的焊缝区域和热影响区（HAZ）— 角度声束DLA探头（A28）
高分辨率，10 MHz，32个小晶片，双晶阵列
很高的声束偏转能力
其已获的枢轴外壳可提供长聚焦范围，从而可获得高的检出率（POD）
带有屋角的系列楔块可以在次轴方向上4毫米到95毫米的深度范围内聚焦
快速高温氢致（HTHA）缺陷扫查 — 零度DLA探头（REX1）
10 MHz，64个晶片，双晶阵列
声束宽度覆盖范围高达30毫米
可以调节的稳固和硬质合金防磨装置，可以紧密地贴合在外径小至101.6毫米的管道表面上
整合型楔块可以覆盖从4毫米到95毫米的厚度范围
在与一个编码器或扫查器配套使用时，可以提供清晰的C扫描图像
早期高温氢致（HTHA）缺陷的探测 — 经过优化用于探测高温氢致（HTHA）缺陷的全聚焦方式（TFM）探头（A31/A32）
包含多个小的晶片，高频率，在探测高温氢致（HTHA）缺陷时，可以充分发挥全聚焦方式（TFM）检测的潜力
技术规格 |
用于A28探头的楔块角度声束楔块系列经过优化，非常适用于焊缝体积和热影响区的检测。楔块角度经过设置，可以在钢中以65度标称入射角生成纵波。这些楔块都有一个屋角，不同楔块的屋角根据不同的AOD直径而计算。 SA28楔块可使声束在两个深度上聚焦，以覆盖宽泛的厚度范围： SA28-DN65L-FD25：有助于对厚度范围从4毫米到45毫米的工件进行检测 SA28-DN65L-FD60：有助于对厚度范围从45毫米到95毫米的工件进行检测 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
