产品规格: | 标准规格 |
所属行业: | 仪器仪表 无损检测仪器 探伤仪 |
包装说明: | 纸箱 |
产品数量: | 0.00 台 |
价格说明: | 面议 |
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TH2825A型高速LCR数字电桥
性能特点
■ 超高速测量:15ms(测试频率≥100Hz时)
■ 大型LCD(240×64点阵)显示
■ 人性化引导式操作界面
■ 50Hz-100kHz, 10个典型测试频率
■ 10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平
■ 内部DC偏流源*大可达200mA(使用25Ω内阻)
■ 精确的负载校准功能
■ 4种可选源阻抗模式,便于兼容不同LCR表的测试一致性
■ 4点频率/电平/偏流列表扫描功能
■ 变压器参数测量能力
■ 12组内部仪器设定储存
■ 内建9档比较器,分选及档计数
■ 具有良品/不良品(Hi/Go/Low)警示声响判定功能
■ 测试电平V/I监视功能
■ 与Agilent 4263B兼容的Handler接口
■ 与Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令
简要介绍
■TH2825A型高速LCR数字电桥是本公司重点推出的新一代元件参数测试仪器。该产品可提供高达15ms/次的测量速度、50Hz100kHz十点测试频率、以1mV步进的0.01V-1.0V可编程信号电平、5位读数分辨率、多种源内阻选择和强大的测试功能,可满足生产线质量保证、进货检验及元件设计和评估的测量要求。
高速测量
■本产品运用了元件测试领域的*新技术,测试能力可达到甚至追赶Agilent4363B的水平,提供了无与伦比的*高测量速度15ms/次,尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题,为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。
多种可选的信号源阻抗模式
■不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果,TH2825A提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要,保证不同仪表间测试结果的一致性。
恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量
■陶瓷电容器(MLCC)对测试信号电平极为敏感,TH2825A能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器,允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试,100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号。
强大的变压器测试能力
■TH2825A具备变压器测试能力,使用专门的变压器测试夹具,无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比(N,1/N)、互感(M)、初次级电感(LA、LB),初次级直流电阻(DCR2)。有-5V-5V偏置电压(仅TH2825A),可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。
■该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent
与知名仪表的接口兼容性
技术参数
型号 TH2825A
显示器 240x64点阵LCD显示器,5位读数分辨率
测试参数 LCR参数 |Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR
变压器参数 DCR,DCR2,M,N,1/N,LA,LB
测试频率 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10点
测试电平 10mVrms-1.0Vrms,1mV步进<200mV10mV步进≥200mV
信号源内阻 25Ω,100Ω,25Ω/100Ω,C.V.(恒压)
DC偏置电流(≥1kHz) 当100Ω内阻时,±50mAMax当25Ω内阻时,±200mAMax
基本测量准确度 0.1%
|Z|,R,X 0.01mΩ—99.99MΩ
G,B 0.0001μS—999.99S
C 0.001pF—1.9999F
L 0.001μH—99.9999kH
Q 0.0001—9999
显示范围 D 0.0001—9999
θ(DEG) -180.00°—180.00°
θ(RAD) -3.1415—3.1415
Δ% -999.99%—999.99%
TurnsRatio 0.001—9999.9
DCR 0.1mΩ—99.99MΩ
M,L2 0.001μH—99.99kH
测量速度(≥100Hz) 快速:15ms(注1),中速:66ms,慢速:500ms
等效电路 串联,并联
量程方式 自动,保持/手动切换
触发方式 内部,手动,外部,总线
平均次数 1—255
校准功能 开路,短路,负载校正
测量端 5端
显示方式 直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示),档号及档计数
列表扫描 4点频率,电平列表扫描测试
比较器功能 九档(八档合格,一档不合格)
上超/合格/下超比较器
存储器 12组内部仪器设定供存储/调用
接口 RS-232C,HANDLER,GPIB(选件)
4263B完全兼容,为与4263B的互换提供了良好的条件。
注1:快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示,*快测试时间另加5ms。
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